[방사선] X -ray Photoelectron Spectroscopy [XPS]재료 analysis(분석) 법
페이지 정보
작성일 23-01-31 21:45
본문
Download : [방사선] X -ray Photoel.hwp
2. 분석 원리
· X-선원 (X-ray source)
이때 방출된 광전자의 운동에너지는 분석기와 검출기에서 정확히 측정(測定) 된다 방출된 광전자의 운동에너지 Ek는 X-선 광자의 特性에너지 hv에서 core 준위의 결합에너지 Eb와 분광계의 일함수 Ф를 뺀 값이 된다
A + hv → A+* + e-
방사선,X -ray Photoelectron Spectroscopy,XPS 재료 분석법
1. analysis(분석) 목적
순서
설명
레포트 > 자연과학계열
다.[방사선] X -ray Photoelectron Spectroscopy [XPS]재료 analysis(분석) 법
![[방사선] X -ray Photoel-2483_01.jpg](https://sales.happyreport.co.kr/prev/201212/%5B%EB%B0%A9%EC%82%AC%EC%84%A0%5D%20X%20-ray%20Photoel-2483_01.jpg)
![[방사선] X -ray Photoel-2483_02_.jpg](https://sales.happyreport.co.kr/prev/201212/%5B%EB%B0%A9%EC%82%AC%EC%84%A0%5D%20X%20-ray%20Photoel-2483_02_.jpg)
![[방사선] X -ray Photoel-2483_03_.jpg](https://sales.happyreport.co.kr/prev/201212/%5B%EB%B0%A9%EC%82%AC%EC%84%A0%5D%20X%20-ray%20Photoel-2483_03_.jpg)
전자, 광자 혹은 입자들이 시료의 원자들과 상호작용한 결과 발생하는 전자, 광자, 이온 또는 중성 원자 등을 analysis(분석) 함으로써 표면에 대한 정보와, 결합에너지의 변화로부터 표면원소의 화학적 상태에 대해 알 수 있다
일정한 에너지의 광자를 원자나 분자에 쬐면 들뜬 이온과 광전자가 발생한다.
조사된 광전자의 에너지(hv)는 알 수 있으며, Ek와 Ф이 측정(測定) 가능함으로써, 원자 내에서의 전자의 결합에너지(Eb)가 계산된다 이 결합에너지는 원자의 고유한 값(예: C1s전자 284eV, O1전자 532eV, Si 2p3/2 99eV 등) 을 갖기 때문에 표면에서 방출되는 광전자의 스펙트럼을 관측함으로써 표면의 조성, 화학적 결합상태 및 구성원소를 정량 분석할 수 있다. A: 원자나 분자, A+*: 여기된 이온, hv: X-선 광자의 特性에너지, e-: 광전자라고 할 때,
Download : [방사선] X -ray Photoel.hwp( 21 )
3. 분석 방법과 분석 장비
X-선원은 모든 원소로부터 강한 photoelectron peak를 방출할 수 있을 만큼 충분히 큰 photo energy 여야 한다.
Ek = hv - Eb - Ф
1. 분석 목적 전자, 광자 혹은 입자들이 시료의 원자들과 상호작용한 결과 발생하는 전자, 광자, 이온 또는 중성 원자 등을 분석함으로써 표면에 대한 정보와, 결합에너지의 변화로부터 표면원소의 화학적 상태에 대해 알 수 있다.
